안녕하세요
오늘은 김도경님께서 풀이하신
응용지질기사 2011년 6월 12일 기출문제 42번입니다!
42. 시료의 정량분석 중 X선 형광분석법에 대한 설명으로 잘못된 것은?
1. 1차 X선에 의해 방사되는 2차 X선의 분광을 이용한다
2. 시료를 분말가압성형법과 용융법으로 제조하여 고체나 액체 시료 모두를 분석할 수 있다.
3. 다원소 분석이 가능하며, 정밀도가 높다.
4. Mg, Al, Si 등에 대한 최저측정한계와 측정오차가 적어 미량분석에 주로 이용된다.
정답은 4번
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